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展望新的一年IC测试治具的发展趋势

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 浏览：- 发布日期：2018-10-26 16:52:15【大 中 小】

IC测试治具在市场上的发展趋势是怎样的呢？下面我们一起来了解一下。

IC考试方法是正个IC设计的、流片、应用领域流程中切至关重要的一点，利用常见专业课程的IC burn-in/test socket、考试方法夹具等平台可促进供应商大大节约考试方法成本价，且考试方法报告单客观正规。

在今年的IIC展上，鸿怡电子向客户重点展示的是eMMC测试治具、基于U盘FLASH万能通用测试架，以及内存/显存芯片测试治具、安博体育:DDR内存条测试治具、用于FPC的BTB测试座等，通过专业化设计，帮助厂商提升测试的精确度，节约更高的成本。

✤ IC公测冶具适用性高，只需换个小粒肥料定位框，就可以公测大小不一的小粒肥料；按照超短进口清关单头电极结构规划，相对比相同公测新产品，能致IC和PCB间的统计资料传导差距更短，可以确定公测导致更加稳定定，频带宽度越高，中间DDR产品按照现冷门的导电胶结构规划，故高频带宽度会达2800MHz。

BCM-bga516测试治具


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