加速老化测试的定义和测试标准
HAST
高度加速的温度和湿度压力测试（HAST）是一个高度加速，以温度和湿度为基础的电子元件可靠性试验方法。环境参数， HAST也称为压力测试（PCT）或不饱和压力试验（USPCT）。其目的是评估测试样本，通过将试验室中的水蒸汽压力增加到一定的耐湿性。比试样内部的部分水蒸汽压力高得多。这个过程暂时加速水分渗入样品中。
HAST测试标准
HAST是会加快地下室防潮考试方法的变得更加会加快新版本,与较高室内摄氏度/高空气相对湿度考试方法（85°C / 85％RH）想必，HAST会出现更好材料，遇到因空气中的湿气带动的腐烛和更好的耐压劣化。 HAST成功达到了最主要的使用塑胶片密封性能插件。下表显现了通种类的表格中与HAST至关重要性的考试方法要求。考试方法在更改的室内摄氏度和相应室内摄氏度下去空气相对湿度或负压。下垫面一般性兼具应为100℃的室内摄氏度，在a水空气压缩高层供水的情形。 HAST但是被归纳为组合起来考试方法负压也被因为是生活环境规格。有过剩点和HAST的不过剩点茶叶品类。与其一般性在121°C和100％的要求下成功达到RH，后面一种在110,120或130℃和85％RH的要求下。成功达到考试方法电子元器件开关元件的通电一般性是没有过剩点种类。 HAST都是个如此的享乐主义的考试方法，会加快指数公式在两百多到几十倍相互间,85℃和85％RH的要求。这样享乐主义的会加快可使审核如此至关重要故障模型。
表1常见的HAST相关标准
（请注意，标准条件可能会被修改，因此应单独确认。）
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