HAST
高度加速的温度和湿度压力测试(HAST)是一个高度加速,以温度和湿度为基础的电子元件可靠性试验方法。环境参数, HAST也称为压力测试(PCT)或不饱和压力试验(USPCT)。其目的是评估测试样本,通过将试验室中的水蒸汽压力增加到一定的耐湿性。比试样内部的部分水蒸汽压力高得多。这个过程暂时加速水分渗入样品中。
HAST测试标准
HAST是高速度隔潮测验的更为高速度发行版,与高溫/高空气含水率测验(85°C / 85%RH)比起,HAST会存在很多化学成分,学习致使湿气大控制的金属腐蚀和很多的隔绝劣化。 HAST成功了主要用做塑胶板材密封胶配置文件。下表出现了最易见的工作表格与HAST相关联的测验要求。测验在特定的摄氏度和对于摄氏度下使用空气含水率或心理压差。大气气溶胶一般性存在一定100℃的摄氏度,在a水水蒸气加压差程序。 HAST好多情况下被归纳为组成测验心理压差也被觉得是工作环境主要参数。有是处于过饱和状态状态和HAST的不是处于过饱和状态状态结构类型。前面的一般性在121°C和100%的情况下成功RH,前者在110,120或130℃和85%RH的情况下。成功测验光电子开关元件的通电一般性不会是处于过饱和状态状态结构类型。 HAST就是一个相等于享乐主义化的测验,高速度系数在两百多到几百元倍彼此,85℃和85%RH的情况。这些享乐主义化的高速度可使得全面检查很关键性无效经济模式。 表1常见的HAST相关标准
(请注意,标准条件可能会被修改,因此应单独确认。)
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