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安博体育:客制品BGA324-1.0mm间距合金翻盖探针测试插座(带散热)
产品名称:BGA324-1.0合金翻盖探针老化座(带散热,耐高温)
适配IC尺寸:外形尺寸19*19mm ,间距1.0mm
用途:对BGA封装324球芯片进行老化筛选,性能验证。带散热块,可耐高低温
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SDM表面贴装器件测试治具 SMD-4PIN测试座
封装:SMD封装-4PIN
结构:翻盖式
来图定制
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安博体育:定制三星UFS2.1芯片测试治具 三星手机测试架
可根据客户需求定制各类UFS测试治具.
在客户现有的手机主板或是其它PCBA板上,直接将socket精准的固定在产品之上
无需layout,大大降低测试成本,广泛适用于ODM/半导体FAE部门的IC验证。
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安博体育:定制BCM-bga516芯片测试治具
厂家直销,定制BCM-bga516芯片测试治具
无需重新lay板,直接在客供的PCB板上装上治具
脚位精准,测试稳定
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厂家定制CQFP208芯片测试座 定制QFP老化座
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工厂定制LPDDR4X测试座 合金翻盖探针座 IC测试座 ICsocket编程座
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手机芯片UFS2.0 2.1测试座 合金探针老化座 翻盖式插座 UFS编程座
可根据客户需求定制各类UFS测试治具。
在客户现有的手机主板或是其它PCBA板上,直接将socket精准的固定在产品之上,无需layout,大大降低测试成本,广泛适用于ODM/半导体FAE部门的IC验证。
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定制EMMC153/169芯片测试治具
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安博体育:BGA63-0.8翻盖探针转48测试座BGA63-0.8烧录座U盘转DIP48
BGA63翻盖探针转DIP48测试座
BGA63 socket 翻盖式bga转48工厂直销
间距0.8mm 常见尺寸9*11;10.5*13.5
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安博体育:BGA137探针座BGA137翻盖探针转48测试座socket 翻盖式读写烧录座
深圳市鸿怡电子有限公司是一家18年专注研发、生产、销售于一体的技术密集型高新企业,公司专业研制、开发、生产各类BGA/QFN、IC的Burn-in Socket和Test Socket
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BGA784芯片测试座 定制BGA测试socket
材质: PES,PEI
导电体: 镀金探针
触点压力: 30-50g Per Pin
接触阻抗:30mΩ or less at 10mA and 20mV (Initial)
耐电压: 1MinuteATAC700
绝缘电阻:1000 MΩ Min,At DC 500V
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安博体育:定制QFP144测试座 QFP芯片测试座 IC测试座工厂直销
1、应用Pitch:0.25/0.3/0.4/0.5/0.65/0.8pitch等
2、材料:FR4/PPS/PEI/Torlon/Peek/Peek+Ceramic
3、适用封种:BGA/QFP/QFN/WCSP等
4、结构:双扣、翻盖旋钮、翻盖、Open-top
5、接触方式:探针...
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安博体育:定制QFP176-0.4 芯片测试座 翻盖双扣旋钮测试治具
工厂直销,QFP176-0.4合金翻盖测试座;
可根据客户需求定制不同封装、间距、尺寸的IC测试座;
欢迎来图,来电咨询洽谈;
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无线网桥测试治具 定制测试治具 QFN测试治具 测试治具厂家
鸿怡电子拥有多年的socket设计、制作经验,可据据客户要求,提供专业的探针测试座,适用于IC研发、测试。
或是根据客户现有的产品PCBA板,直接将socket精准的固定在产品之上,无需layout,大大降低测试成本,广泛...
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安博体育:三星手机芯片UFS2.0 BGA95测试座 适配器间距0.65mm
可测试的UFS芯片型号:KLUAG2G1BD-E0B2 / KLUBG4G1BD-E0B1 / KLUCG8G1BD-E0B1
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安博体育:BGA378定制测试座 BGA378测试座 BGA测试socket 定制BGA测试治具
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安博体育:PLCC20测试座IC插座 ic老化生产厂家 PLCC SOCKET PLCC老化插座
定制PLCC合金翻盖IC测试座
1、可单独提供socket和布板图供客户做测试板;
2、客户提供现成的PCBA板,我公司直接将socket精准的固定在产品板之上,无需layout,大大降低测试成本和时间。
可按需...
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安博体育:定制BGA784芯片测试座 精密定制IC测试座 BGA测试座
BGA芯片测试座,适配BGA封装的784PIN芯片
可根据客户需求定制各类IC测试座\IC test socket
适用于芯片设计公司的产品验证、性能测试等
一个起订,欢迎有需要的客户咨询洽谈
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安博体育:定制BGA256-0.8 芯片测试座 精密定制IC测试座 BGA测试座
BGA芯片测试座,适配BGA封装的256PIN芯片,间距0.8mm
芯片尺寸17mm*17mm
可根据客户需求定制各类IC测试座\IC test socket
适用于芯片设计公司的产品验证、性能测试等
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WLCSP49-0.4间距测试座IC测试治具QFN/BGA49烧录座原厂定制
本款测试座适配WLCSP封装的49PIN芯片,PIN脚间距0.4mm
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