手机芯片UFS2.0 2.1测试座合金探针老化座翻盖式插座 UFS编程座|老化测试座

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手机芯片UFS2.0 2.1测试座合金探针老化座翻盖式插座 UFS编程座

可根据客户需求定制各类UFS测试治具。
在客户现有的手机主板或是其它PCBA板上，直接将socket精准的固定在产品之上，无需layout,大大降低测试成本，广泛适用于ODM/半导体FAE部门的IC验证。

定购服务电话：13631538587

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BGA检查座的特点：
* 100％最新上线，越高品格、更皮实
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UFS2.0 翻盖旋扭检测器检测座

好产品优点：

种类：测量及腐蚀(没有PCB)

打包封装：UFS2.0/2.1

PIN数：153/169针

差距:：0.5mm

可用做于IC尺:：11.5*13mm

可测试的UFS芯片型号：KLUAG2G1BD-E0B2 / KLUB🅘G4G1BD-E0B1 / KLUCG8G1BD-E0B1

特别说明：客户也可以提供手机给我们定制手机测试架，如有需要，请联系客服咨询，谢谢！

产品图片：

UFS测试座3_副本