LGA测试座特点及性能参数:
封装兼容设计,只要换座头,可兼容测试TSOP封装和LGA封装的FLASH的测试、量产。规模兼容规划,要换限位器框,就行了考试看上去规格各种的LGAF♒LASH;
主控板兼容设计,🅘只要更换主控板的主控I💃C,可实现芯邦。应用一拖四组织架构的,省略外置HUB,每台网上可同一烧录16PCSFlash基带芯片,使用率培增;
LGA测试座测试寿命可达20万次以上,是同类寿命的10倍以上;并且探针可更换,෴维修方便,成本低;主要包括半自动翻盖式结构类型,༒使用省事;
上盖的压板采用特殊结构,下压平稳,保证IC的压力均匀,不移☂位;高误💝差的位置位置定位槽,保护LGA位置位置定位精准度,的生产转化率高;一整台机器的24小时候工作上机械性能动态平衡准确,是FLASH销售商及SD卡厂子好能手!
探头素材:铍铜(标准); 电绝缘用料:FR-4、PPS等; 较大可实现跳距pitch=0.4mm(引脚核心到核心的长度); 交付快:最高每天内交付。 LGA测试仪座注意作用: 对Flash确定清洗及的分类随意挑选。 对NandFlash进行各式化,软件测试实际情况能够 用发热量。 对Flash完成简单烧录,提高自己移动u盘生产加工能力。鸿怡电子拥有16年行业经验,中国优质IC测试座生产厂家๊,公司专营各类应用于集成电路功能验证的测试座、老化座、烧录座、集成电路应用功能考试卡具,资讯电話:400-0260-928