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阐述IC测试座的性能及结构特点

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 浏览：- 发布日期：2016-07-19 11:41:33【大 中 小】

IC测试座主要就♈是用於检查查在线的单个IC元器件以及各电路网络的开、短路情况，以及模拟器件作用和数字器件逻辑作用测试。

阐述IC测试座的性能及结构特点

IC测试座就是测试期间在恶劣的环境条件下能完全实现设计规格书所规定的作♕用及性能指标。是对在线元器件的电性能及电气连接进行测试来检查生孩子生产偏差及元电子电器元件缺陷的一种生活规范检查机械设备。

IC测评座主要采用了人工机械翻盖式型式和手动式下压式型式，工作快捷；翻盖的上盖的IC托板主要采用了弹压式型式，能手动式改善下压为， 保障IC的压为饱满。

探针的特殊头形突起能刺破焊接꧂球的氧化层，接触可靠而不会损坏锡球。高精度的定位槽或导向孔，保证IC定位精确，生产效率高探针可更换，维修有利，🌞成本价低。

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