1/5
BGA174pin-0.4mm-6.6x6.6mm合金翻盖探针芯片测试座LGA16pin-0.7mm-2.95x5.33mm合金翻盖芯片测试座
晶振4pin-2.24mm-3.2x2.5mm一拖十六翻盖测试座WLCSP5pin-0.5mm-0.930x0.770mm合金翻盖探针芯片测试座
DFN10pin-0.4mm-2.0x2.0mm塑胶翻盖芯片测试座DFN4pin-1.9mm-3.4x2.7mm塑胶翻盖芯片测试座
QFN24pin-0.6mm-5x6mm塑胶翻盖芯片探针老化座QFN20pin-0.4mm-3x3mm合金下压芯片测试座
BGA132pin-0.4mm-5.4x5.8mm合金翻盖探针芯片测试座QFN24pin-0.35mm-3.0x3.0mm合金翻盖探针芯片测试座
电子产品寿命短?HAST老化试验做了吗?安博体育:寻找志同道合的工作伙伴!