QFN24pin集成电路芯片的老化检验组合夹具产品设备百科:
HAST公测:+130°,水分子含量85% HTOL测试图片:温循:-55°~125° 基带芯片软件测试瞬时电流:500mA 累计充分满足1000天 单片机芯片受损座格局:翻盖式 集成电路芯片测试图片座食材:塑胶注塑
QFN24pin集成电路芯片的老化检验组合夹具产品设备百科:
HAST公测:+130°,水分子含量85% HTOL测试图片:温循:-55°~125° 基带芯片软件测试瞬时电流:500mA 累计充分满足1000天 单片机芯片受损座格局:翻盖式 集成电路芯片测试图片座食材:塑胶注塑