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TSSOP24pin-0.65mm芯片老化测试座DFN4pin-1.05mm-0.65X0.45mm一拖十六工位芯片测试座
QFN48pin-0.35mm-5x5mm合金翻盖芯片测试座DFN10pin-0.4mm-1.8x2.1mm塑胶翻盖探针芯片老化座
QFN8pin-1.27mm-5x5x1.7mm合金翻盖芯片测试夹具BGA100pin-0.5mm-5.5×5.5mm芯片测试座
WLCSP12pin-0.5mm-2.496×3.010mm塑胶翻盖芯片探针测试座WLCSP24pin-0.4mm-2.634×1.819±0.03mm塑胶翻盖芯片探针测试座
WLCSP15pin-0.5mm-3.002×1.919mm塑胶翻盖探针芯片测试座WLCSP21pin-0.5mm-3.022×3.290mm塑胶翻盖探针芯片测试座
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