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QFN24pin-0.6mm-5x6mm塑胶翻盖芯片探针老化座QFN20pin-0.4mm-3x3mm合金下压芯片测试座
BGA132pin-0.4mm-5.4x5.8mm合金翻盖探针芯片测试座QFN24pin-0.35mm-3.0x3.0mm合金翻盖探针芯片测试座
TSSOP24pin-0.65mm芯片老化测试座DFN4pin-1.05mm-0.65X0.45mm一拖十六工位芯片测试座
QFN48pin-0.35mm-5x5mm合金翻盖芯片测试座DFN10pin-0.4mm-1.8x2.1mm塑胶翻盖探针芯片老化座
QFN8pin-1.27mm-5x5x1.7mm合金翻盖芯片测试夹具QFN32pin-0.5mm-5×5mm翻盖式晶振测试座
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