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DFN10pin-0.4mm-1.8x2.1mm塑胶翻盖探针芯片老化座QFN8pin-1.27mm-5x5x1.7mm合金翻盖芯片测试夹具
QFN32pin-0.5mm-5×5mm翻盖式晶振测试座BGA100pin-0.5mm-5.5×5.5mm芯片测试座
WLCSP12pin-0.5mm-2.496×3.010mm塑胶翻盖芯片探针测试座WLCSP24pin-0.4mm-2.634×1.819±0.03mm塑胶翻盖芯片探针测试座
WLCSP15pin-0.5mm-3.002×1.919mm塑胶翻盖探针芯片测试座WLCSP21pin-0.5mm-3.022×3.290mm塑胶翻盖探针芯片测试座
QFN60pin-0.5mm翻盖芯片测试治具LGA236pin(下28针)-0.35mm-5.28x5.93mm塑胶翻盖芯片烧录座
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