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BGA174pin-0.4mm-6.6x6.6mm合金翻盖探针芯片测试座LGA16pin-0.7mm-2.95x5.33mm合金翻盖芯片测试座
WLCSP5pin-0.5mm-0.930x0.770mm合金翻盖探针芯片测试座DFN10pin-0.4mm-2.0x2.0mm塑胶翻盖芯片测试座
SOP8pin-1.9mm(本体7.2mm)塑胶翻盖芯片测试座DFN4pin-1.9mm-3.4x2.7mm塑胶翻盖芯片测试座
QFN24pin-0.6mm-5x6mm塑胶翻盖芯片探针老化座QFN20pin-0.4mm-3x3mm合金下压芯片测试座
BGA132pin-0.4mm-5.4x5.8mm合金翻盖探针芯片测试座QFN24pin-0.35mm-3.0x3.0mm合金翻盖探针芯片测试座
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