1/5
88PIN-0.8mm-30x20mm合金翻盖芯片老化座--老化板QFP144pin-0.5mm-20x20mm合金旋钮翻盖芯片测试座
LCC48(下针8pin)-1.0mm-16.4x16.4mmATE自动化模块测试座QFP100pin-0.5mm-16x16mm合金旋钮翻盖芯片测试座
BGA174pin-0.4mm-6.6x6.6mm合金翻盖探针芯片测试座LGA16pin-0.7mm-2.95x5.33mm合金翻盖芯片测试座
晶振4pin-2.24mm-3.2x2.5mm一拖十六翻盖测试座WLCSP5pin-0.5mm-0.930x0.770mm合金翻盖探针芯片测试座
DFN10pin-0.4mm-2.0x2.0mm塑胶翻盖芯片测试座SOP8pin-1.9mm(本体7.2mm)塑胶翻盖芯片测试座
电子产品寿命短?HAST老化试验做了吗?安博体育:寻找志同道合的工作伙伴!