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深圳鸿怡电子LCC24pin封装芯片翻盖老化座案例

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 浏览：- 发布日期：2023-02-06 11:05:41【大 中 小】

LCC测量座、LCC的老化座型号规格：

IC芯片芯片封装的类型：LCC 电源芯片引脚：24pin 心片引脚安全距离：1.27mm 集成块规格：8.5×8.5mm


LCC24pin老化座

LCCIC芯片封装IC芯片脱落测评让：

公测摄氏度：+150°，无环境温度追求 测量等待时间：8000钟头（不断地湿度150°） 测试仪操作的力：30每P 软件测试頻率：-1db 3G 自测电压电流：1A（@150°） 了解电阻器：≤30毫欧 10mA ≤20mV 绝缘性阻值：DC100V 1000兆欧已上 老化测试座材质：PEI 光老化座机构：翻盖式


LCC芯片老化座

CLCC基带基带芯片封裝类型处理基带基带芯片测式、PLCC基带基带芯片封裝类型处理基带基带芯片测式、LCC基带基带芯片封裝类型处理基带基带芯片测式在近拿到大多老客户了解，在鸿怡电子LCC老化座、测试座的众多测试案例中，有3个加侧重点需用在联接的同时注标看清楚：

1、存储芯片的尺码规格指标（封装类型、PIN脚、差距、尺码） 2、试验（锈蚀、试验、烧录？） 3、测试英文追求：气温（瞬时或不断地） 4、时间，检验电流值和检验率 5、以免其他的的测评方法意愿请一同署名，标品包括但不限于还能据测评方法特殊要求进行手工加工定制开发！

LCC20pin芯片老化座

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