安博体育
你好呀,邀请我在东莞市鸿怡电子器件比较有限大公司网站
|
微信关注
|
收藏本站
|
在线留言
|
网站地图
“鸿”业之愿于精密制造测量
“怡”心一意我愿IC业务
各省提供服务电语:
13632719880
安博体育
大电流微针模组
DDR测试夹具
定制IC测试座
BGA测试座
QFN测试座
QFP测试座
自动测试座
安博体育:SENSOR测试座
安博体育:TSOP/SOP测试座
其它IC测试座
电源IC测试座
触摸IC测试座
产品
案例
资讯
品牌
采购
联系
人才招聘
热门关键词:
端子板订做
弹片微针模组
芯片测试座
U盘编程器
现在地段:
安博体育
»
鸿怡电子安博体育
»
安博体育
»
QFN16pin封装芯片下压单面弹片老化座案例
QFN16pin封装芯片下压单面弹片老化座案例
特征:鸿怡光学
查看手机网址
扫一扫!
扫一扫!
浏览:-
发布日期:2023-02-07 15:16:17【
大
中
小
】
QFN的老化软件测试座品种主要参数:
测试测试心片封口类型的:QFN 测试英文基带芯片引脚:16pin 自测引脚行间距:0.5mm 自测处理芯片大小:3×3mm
QFN16pin封口存储芯片受损测量标准:
受损试验温度表:-40°~+100° 机械性能各种考试:各种考试工作电流:整体化1A 测验回损:-20db@2GHZ 测量插损:-2db@2GHZ 测试英文温:一般温 腐蚀测式座食材:各种合金 氧化测评座组成部分:转钮式双扣 制作方法办法:生产制造制定
在常见打包封装业务类型单片机芯片考试座、受损座的定制实例中,QFN打包封装业务类型业务类型的考试实际需要近些年策略而言实际需要量还比较大的,
꧙安博体育:在鸿怡电子常见的有QFN8、QFN32、QFN48等等这种类型的测试座、老化座socket
使用需求量+V威(icsocket66888)(使用性能性检测和使用性能检测使用需求量请在与工业师接管的是要标出!
下一篇:
安博体育:BGA156pin封装芯片探针老化座案例分享-鸿怡电子芯片老化测试!
上一篇:
深圳鸿怡电子LCC24pin封装芯片翻盖老化座案例
“
推荐阅读
”
鸿怡电子IC老化板工程师:芯片老化板在芯片性能测试和芯片可靠性测试中起到什么作用?
安博体育:鸿怡电子集成电路IC测试:FP封装测试特点,FP封装系列IC老化座解析
安博体育:鸿怡电子-电子器件之功率二极管的封装测试以及对应的测试座特点分析详解
IC测试座工程师:功率元器件的封装特点,功率器件适用场景以及鸿怡电子IC老化寿命测试座
PLCC、CLCC、LCC封装芯片的区别与特点,鸿怡电子芯片测试与测试座的案例分享
安博体育:鸿怡电子芯片测试座:球状引脚栅格阵列BGA封装芯片测试,BGA芯片测试座
鸿怡电子SOT23系列芯片老化测试座Support IGBT MOSFET a♛nd Other Function IC
安博体育:芯片测试解决方案:SOT芯片封装特点与适用场景,鸿怡电子SOT芯片老化座介绍
安博体育:IC封装测试:直插式晶体管同轴封装TO系列的特点,TO测试座的选配—鸿怡电子
安博体育:IC测试座工程师:PGA芯片的封装、特点与应用场景,PGA芯片测试座参数与选配
【文中标贴】:
芯片封装测试座
LGA测试座
LGA老化座
LGA烧录座
QFN老化座
烧录座
测试夹具
测试治具
微针模组
安博体育:支持大电流测试、高频测试、高低温测试等等
【责任义务编辑器】:鸿怡电子
版权所有:
安博体育://ptchuanpiao.com
转载请注明出处
鸿怡电子推荐
安博体育:定制DFN16pin-0.65mm-5X6mm翻盖探针合金测试座
DFN16pin芯片测试座规格参数
芯片封装类型:DFN
芯片引脚:16pin
芯片引脚间...
开关电源芯片DFN4pin-5.5mm-014-KNL(8X3.8mm)老化测试座
开关电源芯片DFN4pin老化测试座规格参数:
品牌:HMILU
芯片封装形式:DFN
...
定制邮票孔模块109pin-1.1mm-17.7x15.8mm合金翻盖测试座
邮票孔模块109pin测试座规格参数:
品牌:HMILU
模块引脚:109pin
模块引脚...
DDR4*8一拖八内存条测试治具(台湾订制版)
1、Socket材料:优质铝合金、工程玻纤、工程塑料
2、PCBA板材料:FR4、镀金焊盘30mil,...
模块48PIN-1.27mm-21X16X2.5mm合金翻盖探针测试座
模块48pin测试座规格参数:
品牌:HMILU
制作方式:加工定制
模块引脚:48p...
相关安博体育
鸿怡电子IC老化板工程师:芯片老化板在芯片性能测试和芯片可靠性测试中起到什么作用?
鸿怡电子集成电路IC测试:FP封装测试特点,FP封装系列IC老化座解析
安博体育:鸿怡电子-电子器件之功率二极管的封装测试以及对应的测试座特点分析详解
IC测试座工程师:功率元器件的封装特点,功率器件适用场景以及鸿怡电子IC老化寿命测试座
PLCC、CLCC、LCC封装芯片的区别与特点,鸿怡电子芯片测试与测试座的案例分享
鸿怡电子芯片测试座:球状引脚栅格阵列BGA封装芯片测试,BGA芯片测试座
鸿怡电子SOT23系列芯片老化测试座Suppor♕t IGBT MOSFET and Other Function IC
安博体育:芯片测试解决方案:SOT芯片封装特点与适用场景,鸿怡电子SOT芯片老化座介绍
安博体育:IC封装测试:直插式晶体管同轴封装TO系列的特点,TO测试座的选配—鸿怡电子
IC测试座工程师:PGA芯片的封装、特点与应用场景,PGA芯片测试座参数与选配
最新资讯文章
13632719880
安博体育:
关于鸿怡
通用/标准IC测试座
产品中心
IC测试解决方案
客户见证
联系鸿怡
网站地图
深圳市鸿怡电子有限公司 @版权所有信息
全国咨询热线:13632719880 电话:0755-83587595
传真号码:0755-23287415 邮箱:liu@ptchuanpiao.com
扫一扫
进入手机网站
var _hmt = _hmt || []; (function() { var hm = document.createElement("script"); hm.src = "https://hm.baidu.com/hm.js?90c4d9819bca8c9bf01e7898dd269864"; var s = document.getElementsByTagName("script")[0]; s.parentNode.insertBefore(hm, s); })(); !function(p){"use strict";!function(t){var s=window,e=document,i=p,c="".concat("https:"===e.location.protocol?"https://":"http://","sdk.51.la/js-sdk-pro.min.js"),n=e.createElement("script"),r=e.getElementsByTagName("script")[0];n.type="text/javascript",n.setAttribute("charset","UTF-8"),n.async=!0,n.src=c,n.id="LA_COLLECT",i.d=n;var o=function(){s.LA.ids.push(i)};s.LA?s.LA.ids&&o():(s.LA=p,s.LA.ids=[],o()),r.parentNode.insertBefore(n,r)}()}({id:"K9y7fDzSfyJvbjbD",ck:"K9y7fDzSfyJvbjbD"});
奥博体育(中国)官方网站IOS/安卓通用版/手机版
谈球吧体育·(ued)app官方网站-苹果/安卓版/手机版app下载
谈球吧体育app下载(中国)-App Store
天博·综合体育在线平台-天博app官方入口
火狐体育·(官网)全站app