QFN脱落测验座型号规格规格:
自测基带芯片封装形式方式:QFN 各种测试基带芯片引脚:16pin 测试测试引脚间隙:0.5mm 检查集成块外形尺寸:3×3mm
QFN16pin封装形式心片脱落检测的标准:
光老化测试英文室温:-40°~+100° 能力公测:公测电流量:整体的1A 测试软件回损:-20db@2GHZ 测试方法插损:-2db@2GHZ 测试软件环境热度:正常值环境热度 光老化自测座的原材料:合金类 脆化软件测试座型式:按钮式双扣 拍摄方式英文:加工工艺个人定制
在各项封裝单片机芯片自测软件座、的老化座的自制例案中,QFN封裝类别的自测软件要近些年言之要量仍然太大的,安博体育:在鸿怡电子常见的有QFN8、QFN♔32、QFN48等等这种类型的测试座、老化座socket业务业务需求+V威(icsocket66888)(职能性考试和特性考试业务业务需求请在与过程中师接入的之前要附上!