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使用IC测试座的好处有哪些？

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 浏览：- 发布日期：2016-07-19 11:46:09【大 中 小】

IC测试座(测试插座)是对IC器件的电性能及电气连接进行测试来检查生产制造缺陷及元器件不🍰良的一种标准测试设备。

IC测试座，用于IC封装🦩后的测试，主要包含有互相组配的一上盖板与一基座。上盖板的内部容设有通孔，以及在邻近前述的通孔附近设置有复数个测量自测探头，用作接受IC，各测量自测探头的的內部容设置有测量气弹簧。地座的的內部容设只要一承靠座，对照于上后盖板的通孔，用作乘载待测IC。承靠座的下方与地座左右安装有通常一承靠拉簧，和通孔与承靠座左右的差距不低于IC封装形式后的板材的厚度，且承靠拉簧的活力因子不超出现复数个检验拉簧的活力因子的乘积。

选择IC測試座的弊端： 1)可制止待测IC于自测安装自测时易宽度不合适而被压损。 2)可以免因測試系统设计与待测IC碰到不当而有測試挫败。 3)以提拔公测良率及减小营造制造费。

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