新能源汽车车规芯片QFN老化测试座

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新能源汽车车规芯片DFN封装MOS场效应管\大功率管测试座_PDFN芯片老化座

该QFN产品系列主要应用于新能源汽车车规芯片高低温老化、性能测试使用
适用于PDFN、DFN、TO等封装大电流大功率芯片、MOS管
常见的芯片有电源转换芯片老化测试、动力分配传感器芯片老化测试、电源管理芯片老化测试
使用环境温度最高可达到200℃≤85HR@3000小时

定货服务热线：13631538587

货品详情页

MOS大功率管测试座（夹具）特点：
①测试座设计成翻盖结构，使用测试简单方便，压合平稳接触稳定。
②测试座外壳采用阳极硬氧铝合金材质，表层绝缘耐磨、抗氧化强使用年限长。
③测试座使用进口双头探针接触方式，相比同类测试产品使IC与PCB之间数据传输距离更短，从而使测试更稳定，频率更高。
④测试（老化）PCB与Socket采用定位销定位及防呆，采用螺丝连接、固定，拆卸、维护简单方便。

DFN封装测试座（夹具）特性
①结构：翻盖式；
②外壳材质：铝合金；
③接触方式及材质：双头探针，铍铜镀金；
④核心部件材质：peek陶瓷；
⑤额定电流：1A；
⑥操作压力：30g、PIN越多压力越大；
⑦接触电阻：＜100mΩ；
⑧环境温度：-55℃~175℃；
⑨机械寿命：100000；

工厂介绍

鸿怡光电生产加工的该QFN的产品型号主耍应主要用于新清洁能源车辆车规外接电源线处理器退化检查用，应主要用于外接电源线改变外接电源线处理器退化检查、冲力安排传红外感应器器外接电源线处理器退化检查、外接电源线经营外接电源线处理器退化检查，其中包含车辆EMC外接电源线处理器退化检查、车辆汽压调整外接电源线处理器退化检查、车辆DSP调整器外接电源线处理器退化检查、车辆液位监测机械外接电源线处理器退化检查、车辆ECU外接电源线处理器退化检查、重压传红外感应器器外接电源线处理器退化检查、车辆ASC外接电源线处理器退化检查

新能源汽车芯片测试座