在两个篇论文中,当我们也次数提起HTOL,那末啥是HTOL,HTOL(High Temperature Operating Life)检验是测评集成型电源电路(心片)靠得住性的要素检验,它关键动用中高温、髙压承载力 速率度的做法模以心片的长久电脑开机运行,以测评心片使用寿命和长久上电电脑开机运行的靠得住性和维持性,普通称作老旧化检验。 HTOL就是集成ic在高溫(>=125度)和压力(>=最高运行中交流电压)前提下持续不断运行中肯定时候(>=1000分钟,不同的的适用场境,不同的的时候相关规定),观察剖析 集成ic需不要有有难题。 普通在集成ic首次实现实现量产前,必须要有做三批集成ic锈蚀测验图片.首次实现实现量产后也会确定的可选择性抽样检验测验图片。 普通要有对每次集成ic确定ATE测验图片,并记录好锈蚀前的数据文件。 若果锈蚀后几乎所有ATE测验图片都确认,则描述HTOL测验图片确认(标准考量于重点技术指标的漂移)。 若果集成ic发现出现问题的,则要有对其确定剖析。 就关键的错误根本情况,查证根本情况后行重拾确定HTOL测验图片,知道全部都确认,HTOL测验图片行以为是OK。 于是,HTOL的各大的方面都极其最重要。 只要某些要素冒出了困难,会导致集成块冒出了设备故障,就都要投入量更多额外的的劳动力、资源配置、支出来浅析相应的现象。 在众多现状下,伴随没了大量的损坏整个的过程 参数,无从对其来进行浅析。 关键现象。 二,伴随损坏測試生长期十分长,重拾做损坏測試的时间间隔和的成本也是众多工厂无从经受的。 于是,相对损坏測試,从印刷品选定 和測試、损坏板方式来设计的概念、外部元器设计的概念、损坏板PCB来设计的概念和制造、集成块损坏座选定 、损坏測試测试、配置、损坏整个的过程 管控、损坏关机进行操作和 好多许多方式方法都要极其留神。 今天将重點价绍HTOL工艺流程中比较容易冒出了困难的区域,供大家参阅。
五、在PCB layout完成后,就进入老化板的加工及贴片:首先PCB板材的选择,必须根据实际老化温度采用耐高温板材,PCB加工时采用沉金或镀金工艺为佳。外围器件也必须采用耐高温器件,贴片焊接时接插件注意定位摆正,避免歪斜,以免引起接触不良,金手指或者与socket接触的PAD需要镀金,尽量厚一些,以确保接触良好及耐用。
当老化板制作完成后,可以开始老化测试的调试工作了,一般我们可以先简单测试一下有没有电源短路的情况,确认没问题后,可以先进行单颗芯片的调试,当单颗调试OK后,再逐步增加其余的芯片进行调试,这样可以避免因为某个环节出错,导致大量烧坏芯片的情况,当整个老化板调试完成后,就可以入炉老化,入炉老化也特🧸别需要注意上电,下电的操作,一般老化板的总电流都比较大,电源走线也会有寄🅘生电感,在上下电的瞬间,会产生较大的过冲,此时特别容易打坏芯片,有条件的可以采用逐一控制每颗芯片的开启和关闭,让电流缓慢变大、缓慢变小,这样可以尽可能的避免过冲或者降低过冲,以保证芯片不被打坏。另外要尽量避免在高温时上下电操作,如果老化过程中出现问题需要排查,尽量降温后操作,一般降温到40度以下操作为宜。