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定制IC测试座_QFN56（8×8）0.5间距下压弹片老化座_烧写座

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 浏览：- 发布日期：2021-10-18 11:02:25【大 中 小】
工厂介绍

鸿怡微电子分娩个人定制IC检查座_QFN56（8×8）0.5间隔下压弹片衰老座_烧写座，另外还分娩各种品种全的心片封装类型检查座/衰老座/烧录座/检查组合夹具/BGA/EMMC/EMCP/QFP/QFN/SOP/SOT/DDR/FPC/connector等。

QFN56芯片烧写座

产品简介

产品用途:编程座、测试座，对QFN56的IC芯片进行烧写、测试

适用封装:QFN56引脚间距0.5mm

测试座:QFN56-0.5

特点:采用U型顶针，接触更稳定

规格尺寸

型号:QFN-56-0.5

引脚间距（mm）：0.5

脚位:56

适配芯片尺寸:8*8mm

QFN56芯片测试座

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