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安博体育:TOLL9pin-1.2mm-9.9X11.68mm合金旋钮翻盖测试座
TOLL9pin功率器件测试座规格参数:
品牌:HMILU
封装形式:TOLL
器件引脚:9pin
引脚间距:1.2mm
适配器件尺寸:9.9mm
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安博体育:TO252-5L-1.27(本体5.5x6.5mm)翻盖探针老化座
TO252-5L探针老化测试座规格参数:
品牌:HMILU
封装形式:TO252
引脚:5pin
引脚间距:1.27mm
适配尺寸:5.5*6.5mm
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功率器件TO252-3L(252-30单工位,4PIN)翻盖老化测试座
TO252-3工位4pin老化座规格参数:
功率器件封装形式:TO252
引脚:4pin
引脚间距:2.24mm
本体尺寸:5.15mm
喊引脚尺寸:6.54mm
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安博体育:定制TO247-3pin-5.44mm合金翻盖测试座
TO247-3L测试座规格参数:
封装形式:TO247
引脚:3pin
间距:5.44mm
本体尺寸:16mm
含引脚尺寸:41mm
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安博体育:TO247-3L车规级功率器件下压老化测试座
TO247-3L功率器件老化座规格参数:
封装类型:TO247
引脚:3pin
引脚间距:2.54mm
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安博体育:TO277B-3L-SMC5翻盖老化座
TO277B老化测试座规格参数:
封装类型:TO
IC间距:1.8mm
IC本体尺寸:5.4mm
IC含脚尺寸:6.5mm
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新款TO247-4pin老炼座-TO老化座
TO247器件老化测试座规格参数:
器件封装类型:TO247
引脚:4pin
引脚间距:5.44mm
测试座类型:下压式
适用场景:老化/测试/烧录
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安博体育:AEC-Q系列车规级功率器件TO247封装3pin老化测试座
车规级功率器件老化座规格参数:
适配IC封装:TO247
pin脚数:3pin
引脚中心距:5.44mm
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安博体育:定制TO252-5pin合金翻盖老化座
TO252-5pin老化测试座规格参数:
封装类型:TO252
引脚:5pin
引脚间距:1.14mm
本体尺寸:6.4mm
含引脚尺寸:10.6mm
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SOP16(28)-1.27高低温老化夹具 老化座 测试座 烧录读写编程座
产品性能
材质
(1) 绝缘体 PEI、PPS
(2) 弹片, 铍铜Be Cu Gold plating(30μ) Over Nickel plating(50μ)
规格尺寸
(1) 型号: SOP16(28)-1.27
(2)引脚间距:1.27
...
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SOP44-1.27 老化座 夹具 烧录座 弹跳编程座 转换DIP插座
OP44-1.27下压弹片老化座 测试座 烧录座
型号:SOP44-1.27下压式
脚位:44pin
间距:1.27mm
尺寸:28.2*16mm(525mil);
芯片本体宽13.3mm(不含脚)
适用封装:sop/psop/soic
...
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安博体育:SMD-0.2(8×5.4)翻盖开尔文光座(011-0020-081)-YYS
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PDFN/TOLL/TO等封装的大电流大功率半导体器件MOS场效应管老化测试൲座测试夹具工装老化插座socket
老化座特点: ①该老化座采用PEI耐高温塑胶材料注塑成型,适用于长时间高温高湿(85%HR,175℃)环境下老化(htol/hast)且交期短; ②采用按压式结构,适用于自动化设备大批量放取MOS场效应管器件,大大提高测试效...
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[安博体育]IC封装测试:直插式晶体管同轴封装TO系列的特点,TO测试座的选配—鸿怡电子
202多年0一月份04日 10:56
根据鸿怡电子TO封装测试座工程师介绍:TO(Transistor Outline),即晶体管外形。早期晶体管大都采用同轴封装,后来被借用到光通信中,叫做TO封装,即同轴封装。 1、直插式晶体管外形TO封装插件具有易于安装和维修的优势。由于其引脚直接插入插座,安装非常简便。而且,如果需要更换或维修晶体管,只需将插件从插座中拔出即可,无需对整个电路板进行拆卸。这种便捷性使得直插式晶体管外形TO封装插件在电子设备的制造和维修过程中得到广泛应用。 2、直插式晶体管外形TO封装
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安博体育:TOLL封装测试座
[安博体育]鸿怡电子带您了解芯片封装类型以及对应的特点!
2025年03月03日 11:50
最近很多朋友再问这个问题,不明白两者之间的关系,今天和大家浅聊一下,前面芯片设计那些流程就省略了,之前的文章也有提到过,可以翻看前面的内容! 首先要明白芯片的封装类型有哪些?在过去,封装只是为了保护脆弱的硅芯片,并将其连接到电路板上。如今,封装通常包含多个芯片。随着减少芯片占用空间需求的增加,封装开始转向3D。 芯片封装,简单来说就是把Foundry生产出来的集成电路裸片(Die)放到一块起承载作用的基板上,把管脚引出来,再封装成为一个整体。它起到保护芯片,相当于芯片的
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安博体育:[安博体育]芯片测试座在IC芯片测试中的作用以及三种测试?
22年1十一月份16日 14:41
IC芯片测试座具有操作简单、故障定位准确、方便快捷、测试良率高等特点。简单描述就是一款连接芯片与PCB板的连接器插座; IC芯片测试座主要有3种作用: 1、来料检测:买回来IC使用时,有时会进行质量检验,发现不良产品,然后进行改进SMT的良率。IC芯片肉眼看不到质量,需要通电导通测试,常用方法检测IC芯片无法完全判断电流、电压、电感、电阻IC好坏;通过测试座可以详细判断IC应用的功能及跑程序的好坏。 2、维修检测:有时主板在生产过程中出现问题,哪里出了问题?很难判断!IC
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安博体育:[安博体育]为第三代半导体的崛起“添砖加瓦”鸿怡电子第三代下压老化座
明年2月26日 12:14
碳化硅与硅相比(SiC)和氮化镓(GaN)第三代半导体具有效率高、能耗低、散热快等特点。第三代半导体设备可提供高压、高速开关和低导电阻。鉴于该特性,其将成为有助于降低能耗和缩小系统尺寸的下一代低损耗器件。
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安博体育:[安博体育]PDFN/TOLL/TO等封装的大功率半🎃导体器件MOS场效应管如何进行老化测试
22年09月17日 10:18
功率器件及第三代半导体是当前的半导体产业技术追逐的热点,也是国内半导体产业中最有希望能够赶超世界先进技术的领域之一。 现在众多国产功率半导体厂商已经在材料、设计、制造、封测等各个环节成功突围,逐渐形成自主可控的完整产业链。但是在产业最上游的高端封装设备领域,却仍以国外企业为主导,为加速推动功率半导体高端封装,制造设备国产化进程已经刻不容缓。 伴随着功率半导体时代到来,Clip Bond封装工艺在此可以说是大有作为,相对数字集成电路而言,功率半导体并不是单纯追求线宽的缩小,且生
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