安博体育
你们好,追捧到了成都 市鸿怡自动化股份有限公司的公司的官網
|
微信关注
|
收藏本站
|
在线留言
|
网站地图
“鸿”业之愿于五金机械探测
“怡”心一意愿能IC服务质量
国内的服务电话:
13632719880
安博体育
大电流微针模组
DDR测试夹具
定制IC测试座
BGA测试座
QFN测试座
QFP测试座
自动测试座
SENSOR测试座
TSOP/SOP测试座
其它IC测试座
电源IC测试座
触摸IC测试座
产品
案例
资讯
品牌
采购
联系
人才招聘
热门关键词:
测试座
老化座
烧录座
测试座厂家
某些地位:
安博体育
»
全站搜索
» 搜索:高低温测试等等
定制SOP8-1.27-11.5×7.5测试座SOP8非标宽体测试座夹具弹跳座
测试座(夹具)特点:
①测试座根据非标SOP宽体封装设计,能满足多种不同本体宽的芯片需求。
②测试座外壳采用阳极硬氧铝合金材质,表层绝缘耐磨、抗氧化强使用年限长。
③测试座使用进口双头探针接触...
更多 +
定制SMD-4Pin测试座翻盖探针pogoPIN双工位测试夹具测试工装
测试座(夹具)特点:
①根据客户空间使用要求,设计成双工位的形式,同时测试两颗芯片,提高测试效率。
②测试座外壳采用阳极硬氧铝合金材质,表层绝缘耐磨、抗氧化强使用年限长。
③测试夹具采用多...
更多 +
定制TQFP/LQFP/QFP176pin合金翻盖探针测试座测试夹具0.5间距24*24mm
测试座(夹具)特点:
①测试座外壳采用阳极硬氧铝合金材质,表层绝缘耐磨、抗氧化强使用年限长。
②测试座设计翻盖旋钮结构,使用测试简单方便,压合平稳接触稳定,保护引脚不形变。
③测试座使用进...
更多 +
安博体育:定制QFP64封装MCU合金翻盖烧录测试座测试夹具测试工装
测试座(夹具)特性
①结构:翻盖式;
②外壳材质:铝合金;
③接触方式及材质:双头探针,铍铜镀金;
④核心部件材质:peek陶瓷;
⑤额定电流:1A;
⑥操作压力:30g、PIN越多压力越...
更多 +
安博体育:定制QFN36测试座测试夹具工装0.4间距翻盖探针转换座
测试座(夹具)特性
①结构:翻盖式;
②外壳材质:铝合金;
③接触方式及材质:双头探针,铍铜镀金;
④核心部件材质:peek陶瓷;
⑤额定电流:1A;
⑥操作压力:30g、PIN越多压力越...
更多 +
安博体育:定制QFN32顶针烧录座测试夹具合金翻盖探针高低温老化测试治具
测试座(夹具)特点:
①测试座设计成翻盖结构,使用测试简单方便,压合平稳接触稳定。
②测试座外壳采用阳极硬氧铝合金材质,表层绝缘耐磨、抗氧化强使用年限长。
③测试座使用进口双头探针接触方式...
更多 +
定制 QFN28-0.45(4×4)翻盖 探针 顶针 烧录夹具 编程转换座 测试座
测试座(夹具)特点:
①测试座设计成翻盖结构,使用测试简单方便,压合平稳接触稳定。
②测试座外壳采用阳极硬氧铝合金材质,表层绝缘耐磨、抗氧化强使用年限长。
③测试座使用进口双头探针接触方式...
更多 +
安博体育:定制 QFN24翻盖探针 老化座 测试座 编程座 老化工装夹具 0.4间距
测试座(夹具)特性
①结构:翻盖式;
②外壳材质:铝合金;
③接触方式及材质:双头探针,铍铜镀金;
④核心部件材质:peek陶瓷;
⑤额定电流:1A;
⑥操作压力:30g、PIN越多压力越...
更多 +
安博体育:定制 QFN20 合金顶窗烧录座 老化测试夹具 适用于自动化设备
测试座(夹具)特点:
①下压(按压式)结构,适配于自动化设备气缸、机械手使用,大大提高烧录测试效率。
②测试座外壳采用阳极硬氧铝合金材质,表层绝缘耐磨、抗氧化强使用年限长。
③测试座使用进...
更多 +
定制 QFN4 DFN4 SMD-4 开模探针翻盖老化座 顶针老化夹具 高低温htol测试
测试座(夹具)特点:
①翻盖式结构,使用测试简单方便,压合平稳接触稳定。
②外壳采用开模方式,单价低,交期快。
③采用进口双头探针接触方式,相比同类测试产品使IC与PCB之间数据传输距离更短,从...
更多 +
定制 QFN16 翻盖合金探针 烧录编程装换座 读写夹具 测试座
①结构:翻盖式;
②外壳材质:铝合金;
③接触方式及材质:双头探针,铍铜镀金;
④核心部件材质:peek陶瓷;
⑤额定电流:1A;
⑥操作压力:30g、PIN越多压力越大;
⑦接触电阻:<...
更多 +
定制 WOSN8 DFN8 QFN8 翻盖探针测试座 烧录座 烧录夹具
测试座(夹具)特点:
①测试座设计成翻盖结构,使用测试简单方便,压合平稳接触稳定。
②测试座外壳采用阳极硬氧铝合金材质,表层绝缘耐磨、抗氧化强使用年限长。
③测试座使用进口双头探针接触方式...
更多 +
定制QFN6-0.5-1.5x1.5-CCP老化座
更多 +
安博体育:定制QFN2-0.65_1.0×0.6定制合金翻盖测试座
更多 +
安博体育:LGA14pin封装芯片合金旋扭测试座
LGA14pin测试座规格
芯片封装类型:LGA
芯片引脚:14pin
芯片引脚间距:0.5mm
芯片尺寸:2.5×3.0mm
更多 +
定制LCC7-2.54合金翻盖探针测试座
更多 +
定制FPC14pin-1.0快速夹带PCB板带牛角插头
更多 +
安博体育:定制FPC-12pin-0.5快速夹
更多 +
定制DFN2合金翻盖测试座
更多 +
[安博体育]鸿怡电子带您详细了解关于半导体芯片可靠性测试与芯片测试座socket
202一年06月18日 10:04
一、加速度测试 大多数半导体器件的寿命在正常使用下可超过很多年。 但我们不能等到若干年后再研究器件;我们需要增加施加的应力。 施加的应力可增强或加快潜在的故障机理,帮助找出根本原因,并帮助 TI 采取措施防止故障模式。 在半导体器件中,常见的一些加速因子为温度、湿度、电压和电流。 在大多数情况下,加速测试不改变故障的物理特性,但会转移观察时间。 加速条件和正常使用条件之间的转移称为“降额”。 高加速测试是基于 JEDEC 资质认证测试的关键部分
阅读(26)
标签:
新闻
|
产品
|
定制测试座
1
2
下一页
尾页
相关搜索
热点聚焦
鸿怡电子无线试验座的用途介绍书
测试座就是一种具有测试...
研讨就BGA测评座所享有的特殊性及价...
BGA测试座具有哪些特点?...
1
安博体育:电子产品寿命短?HAST老化试验做了吗?
2
安博体育:寻找志同道合的工作伙伴!
13632719880
关于鸿怡
通用/标准IC测试座
产品中心
IC测试解决方案
客户见证
联系鸿怡
网站地图
深圳市鸿怡电子有限公司 @版权所有信息
全国咨询热线:13632719880 电话:0755-83587595
传真号码:0755-23287415 邮箱:liu@ptchuanpiao.com
扫一扫
进入手机网站
var _hmt = _hmt || []; (function() { var hm = document.createElement("script"); hm.src = "https://hm.baidu.com/hm.js?90c4d9819bca8c9bf01e7898dd269864"; var s = document.getElementsByTagName("script")[0]; s.parentNode.insertBefore(hm, s); })(); !function(p){"use strict";!function(t){var s=window,e=document,i=p,c="".concat("https:"===e.location.protocol?"https://":"http://","sdk.51.la/js-sdk-pro.min.js"),n=e.createElement("script"),r=e.getElementsByTagName("script")[0];n.type="text/javascript",n.setAttribute("charset","UTF-8"),n.async=!0,n.src=c,n.id="LA_COLLECT",i.d=n;var o=function(){s.LA.ids.push(i)};s.LA?s.LA.ids&&o():(s.LA=p,s.LA.ids=[],o()),r.parentNode.insertBefore(n,r)}()}({id:"K9y7fDzSfyJvbjbD",ck:"K9y7fDzSfyJvbjbD"});
奥博体育(中国)官方网站IOS/安卓通用版/手机版
谈球吧体育·(ued)app官方网站-苹果/安卓版/手机版app下载
谈球吧体育app下载(中国)-App Store
天博·综合体育在线平台-天博app官方入口
火狐体育·(官网)全站app