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QFN20pin-0.65mm芯片老化测试座
QFN20pin-0.65mm芯片老化测试座详细信息
/Detailed Information
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QFN20pin-0.65mm芯片老化测试座
QFN20pin芯片老化测试座规格参数:
芯片封装类型:QFN
芯片引脚:20pin
芯片引脚间距:0.65mm
适用芯片尺寸:5*5mm
下单电話:13631538587
企业产品详情介绍
鸿怡微电子制作方式的QFN20pin-0.65mm集成电路芯片腐蚀测试图片座的的产品综述、稳定性、特别、金桥铜业跨接线的截面积大小、运用、制作方式企业了解 这款基带心片光脱落座选应用在QFN20pin基带心片光脱落、测验、烧录使用的 QFN20pin处理器光老化测试英文治具护肤品简绍: 集成块测量感应电流:200mA 集成ic氧化测试英文温度表:-45°~+155° 存储芯片检验几率:2Mhz 老化试验座组成:翻盖式
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