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QFN12-0.4(5*5)翻盖弹片芯片老化测试座详细信息/Detailed Information

QFN12-0.4(5*5)翻盖弹片芯片老化测试座

QFN12-0.4翻盖弹片老化座QFN12测试座 编程座 IC549-0124-001-G
工厂直销店铺 欢迎批发 质优价廉！ 翻盖弹片老化座
QFN12-0.4HMILU自有品牌，大量现货当天发！ 【0.4间距/不带板】
预订服务电话：13631538587

QFN12-0.4(5*5)翻盖弹片芯片老化测试座


厂品详细资料

品牌借款用途 编译程序座、检验座，对QFN12的IC处理芯片开始烧写、检验
适用性封装类型 QFN12，MLP12，MLF12 引脚差距0.4mm
测试软件座 QFN12-0.4
优点 使用U型顶针，交往更紧定

金桥铜业跨接线的截面积大小规格尺寸

QFN12-0.4 和程序编写座/考试座可用集成块图解规格参数，、匹配座外貌寸尺：

型号规格 引脚行间距 引脚数 适于IC厚度 外表尺寸大小 咨询中心脚
实体店
A x B
QFN12-0.4 0.4 12 5 × 5
有
对应国外产品型号：


IC549-0124-001-G


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