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IC测试座下压弹片老化座QFN56（8*8）烧写座0.5间距双触点可定制

本款IC测试座适配QFN封装 56PIN 0.5mm间距 芯片尺寸为8mm*8mm的芯片
开模弹片，通孔焊接结构，适合批量烧录、老化使用。
更优的价格，更高的品质，新老客户均可放心选购
若您在我公司网站未找到适合您芯片的IC测试座产品，可直接联系客服人员，咨询定制
预购电話：13631538587

IC测试座下压弹片老化座QFN56（8*8）烧写座0.5间距双触点可定制


QFN56-0.5翻盖弹片检验座

       物品概况

软件使用:程序编写座、软件测量座，对QFN56的IC电子器件开展烧写、软件测量

实用打包封装:QFN56引脚跨距0.5mm

测试测试座:QFN56-0.5

优势:适用U型顶针，接触的面积快又稳定

       规模宽度

规格型号:QFN-56-0.5

引脚边距（mm）：0.5

脚位:56

适应单片机芯片规格:8*8mm


采购：IC测试座下压弹片老化座QFN56（8*8）烧写座0.5间距双触点可定制

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