BGA100翻盖探针转dip48芯片测试座|U盘Flash测试座

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BGA100翻盖探针转dip48芯片测试座

工厂直销，欢迎批发，质优价廉！
BGA100翻盖探针转DIP48芯片测试座
间距1.0mm，常规尺寸12×18mm、14*18mm，
大量现货，当天发！

采购咨询热线：13631538587

产品设备具体详情品牌运作产品设备型號测试测试座图纸文件一般大问题有限公司监理资质

自测座优势特点：

1. 座头主要包括手动使用时翻盖构成，使用灵活。
2. 座额头盖的基带芯片压块采用了道德化型式，下学习压度保持稳定，绝对IC的学习压平滑，不偏差。
3. 测试探针的爪头鼓起能有效果刺穿锡球的氧化物层，接触到性能指标增强, 保养锡球形状。
4. 理性主义化的位置槽、层面孔可以判定IC位置高精度。
5. 特殊化IC载板结构设计，庇护检测器不会遭受惯性力弄坏。
6. 检测器：国外进口检测器，铍铜镀硬金、铑。平均寿命八万次这些
7.检修直接费用低：不方便拆换电极，直接费用低热高效。
8.高韧性度还耐高温度耐压原材料：330度。
9.成熟完善生产gps精度的范围：跳距pitch=0.38mm。
10.提货周期公式：外盘
现货平台BGA63/BGA107/BGA100/BGA137/BGA136/BGA149/BGA152/BGA199/BGA225测试英文座转成DIP48，一起可基于客
户的软件软件公测板设计制作BGA软件软件公测座，LGA软件软件公测座