贴片晶振2016-4PIN晶振双面弹测试座|晶振测试座

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贴片晶振2016-4PIN晶振双面弹测试座详细信息/Detailed Information

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贴片晶振2016-4PIN晶振双面弹测试座

产品数据: 1、材料：PEI 2、适用IC尺寸：1.5x1.5～12x12mm 3、最高频率：>9.3GHZ 4、结构：Open-top/翻盖 5、接触方式：探针 6、工作温度：-55°C～175°C 探针接触细节产品特点： 1、采用开模Socket+探针的结构，大大降低设计、加工成本，降低了使用费用 2、根据实际测试情况，选用不同探针，可以对 IC进行有锡球、无锡球不同测试 3、交期快，最快1天交货，提高使用效率 4、进口探针配合高精度模具，Socket测试更稳定，使用寿命更长

购买热线电话：13631538587

产品设备信息

设备动态数据:

1、村料：PEI

2、不适用IC长宽高：1.5x1.5～12x12mm
3、很高频段：>9.3GHZ
4、格局：Open-top/翻盖
5、触及方式方法：检测器
6、的工作环境温度：-55°C～175°C
检测器接受细节描写
类产品亮点：
1、按照开模Socket+检测器的结构的，有效的缩减结构设计、生产制作
成本费用，调低了采用成本费用
2、只能根据具体测评原因，常用各种检测器，能够对
IC做有锡球、上海球不同于测验
3、交期时间快，比较快1天交期，上升施用速度

4、进口报关电极搞好团结高精确机床，Socket检验更准定，便用保修期更长

2016晶振受损座规格参数书如下所示：

2016晶振老化座规格书