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0.3mm小间距QFN56合金翻盖探针测试座夹具socket详细信息/Detailed Information

0.3mm小间距QFN56合金翻盖探针测试座夹具socket

适配芯片封装：QFN56pin
间距0.3mm，尺寸5*5mm
电流：1A
常温测试
频率2G
购买服务热线：13631538587
①翻盖式结构，使用测试简单方便，压合平稳接触稳定。
②外壳采用开模方式，单价低，交期快。
③采用进口双头探针接触方式，相比同类测试产品使IC与PCB之间数据传输距离更短，从而使测试 更稳定，频率更高。
④测试（老化）PCB与Socket采用定位销定位及防呆，采用螺丝连接、固定，拆卸、维护简单方便。

QFN56老化座

QFN56测试夹具

QFN56测试座

QFN56老炼座

QFN56测试socket

QFN56烧录座

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